AMP-O-LECTRIC G II ターミネータ

モデル G II 装置のすべてのバージョンに、重要なクリンプ ハイト精度調整機能が装備されています。この機能をオプションの圧着品質管理モニタ (CQM II) と組み合わせることにより、今日の高品質な製品に求められる再現可能な厳しいクリンプ公差を実現することができます。ダイヤルを再設定するだけで、0.457 mm [0.018 インチ] の範囲にわたり 0.013 mm [0.0005 インチ] 単位でクリンプ ハイトを調整できます。

クリンプ ハイトは、クリンプの厳格な機械的・電子的特性を保証する、最も優れた非破壊的手段です。クリンプ ハイトは、新しい CQM II の 5 種類のプロセス分析手法のひとつです。

CQM II には、強化されたモニタ機能およびグラフ表示機能とともに、使いやすく直観的なメニューが新たに採用されています。また、TE 以外のターミネータで CQM II を使用できるように性能が強化されています。汎用性、精密度、利便性を備えたこの新しいユニットにより、お客様の生産領域全体にわたって TE の圧着品質管理モニタを標準として配備することができます。

被覆剥きモジュールを AMP 3K、AMP 5K またはモデル G II ターミネータに組み合わせると、 同じ装置でワイヤの被覆剥きと端子圧着を行う経済的で優れた加工法が実現します。

ワイヤの被覆除去に必要とされる専用装置は必要ありません。ワイヤは圧着直前に被覆除去されるので、取り扱い時または保管時のワイヤ導線の破損はありません。また、ワイヤが開始センサにフィードされた時点で被覆剥きモジュールが残りの処理を行うため、ワイヤの位置決め精度が向上します。

TE が提供する、不良圧着部切断技術「CQM II」は、圧着不良の発生を直ちに検知して圧着端子を切断します。こうすることで、後に続くワイヤハーネス製造工程への、不良圧着部の混入を確実に阻止します。